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  • MOS管的工作狀態(tài)與NMOS管的I/V特性曲線介紹
    • 發(fā)布時間:2024-08-03 18:38:32
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    MOS管的工作狀態(tài)與NMOS管的I/V特性曲線介紹
    MOS管的工作狀態(tài)分為以下4個區(qū)域,以NMOS為例:
    (1)截止區(qū):
    當VGS
    (2)線性區(qū):
    當VGS>Vth, 且0
    MOS管的工作狀態(tài) NMOS管的I/V特性曲線
    此時器件工作在線性區(qū),有時也稱為三極管區(qū),式中un為導電溝道中電子的遷移率。 Cox為單位面積的柵氧化層電容,tox為氧化層的厚度。 W和L分別為晶體管導電溝道的寬和長,VGS-Vth稱為過驅動電壓。
    (3)飽和區(qū):
    當VGS>Vth, 且VDS>VGS-Vth時,溝道電流ID為
    MOS管的工作狀態(tài) NMOS管的I/V特性曲線
    隨著VDS增大,當VGS-Vth=VDS時,漏極的反型層逐漸消失,出現預夾斷。 當VDS繼續(xù)增大,這夾斷點向源端移動,最終形成由耗盡層構成的夾斷區(qū),MOS管進入飽和區(qū)工作。 此時溝道兩端的電壓保持VDS-Vth,而VDS的增加部分降落到夾斷耗盡區(qū)內,ID幾乎不變,達到最大。
    (4)擊穿區(qū)
    NMOS 管的漏極—襯底PN結由于VD過高被擊穿。
    MOS管的工作狀態(tài) NMOS管的I/V特性曲線
    需要注意的是,對于PMOS器件來說,線性區(qū)和飽和區(qū)的漏極電流公式需要加負號,VGS,VDS和VGS-Vth都是負的。 由于空穴的遷移率是電子的一半,所以PMOS具有較低的“電流驅動”能力。 換句話說,在工程應用中,只要有可能,我們應該更加傾向于采用NFETs而不是PFETs。
    NMOS管I/V特性曲線
    MOS管的工作狀態(tài) NMOS管的I/V特性曲線
    這是NMOS管的I/V特性曲線,我們不難看出,
    當VGS < Vth時,導電溝道未形成,故處于截止區(qū)。
    當VGS >Vth, 且0 < VDS < VGS-Vth時,器件工作在線性區(qū)(三極管區(qū))。
    當VGS >Vth, 且VDS > VGS-Vth時,溝道電流ID基本不隨VDS的變化而變化。此時器件工作在飽和區(qū)??梢钥吹狡骷ぷ髟陲柡蛥^(qū)時,漏極電流最大。
    當VGS持續(xù)增大時,器件被擊穿。
    MOSFET的跨導
    跨導這個概念是怎么來的呢? 引入這個概念有什么意義呢?
    由于在處理信號的過程中,我們要考慮電壓與電流的變化。 因此我們把這個參數定義為漏電流的變化量除以柵極電壓的變化量。 我們稱之為跨導(通常定義在飽和區(qū)),用gm表示。 跨到的單位是西門子(S)。
    MOS管的工作狀態(tài) NMOS管的I/V特性曲線
    gm代表了器件的靈敏度,對于一個大的gm來講,VGS的微小的變化將會導致漏電流產生很大的變化。
    MOS管的工作狀態(tài) NMOS管的I/V特性曲線
    結合在飽和區(qū)的漏電流的表達公式,gm也可以表示成這樣的表達式。 以上的每一個表達式,在研究gm隨某一個參數變化,其他參數保持恒定(控制變量)的特性都是有用的。
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